PLATFORM PRINCIPLE
让有效进光成为系统能力
传统紧凑型 Czerny-Turner 光路通常包含多次反射与色散环节，链路损耗、杂散光与装调边界会直接影响微弱信号的可用性。HiNA 以高数值孔径透射光路重新组织光能传输，在紧凑系统中兼顾通量、成像质量与工程适配性。
OPTICAL ARCHITECTURE
从光纤输入到探测器的高效传输
HiNA 面向拉曼、荧光、微型显示与弱光测量等空间发射样品，将高 NA 收集、透射式色散和探测器配置组合为可扩展的平台。对于相同信号强度，更多有效进光意味着更短采集时间，或为更高信噪比与更高空间采样频率留出余量。
- 适合弱信号、短积分时间和高速 Mapping 等任务
- 覆盖可见至短波近红外波段的光谱测量配置
- 可搭配制冷 CCD、深度制冷 CCD 等探测方案
MEASUREMENT EVIDENCE
以统一条件理解通量差异
内部对比测试采用同一光源、相同样品、同一支拉曼探头（0.22 NA 接收光纤）、同样的探测器。对比 HiNA 光路和经典 CT 光路的光谱仪。
在 675~975 nm 的测试区间内，经狭缝宽度归一后，HiNA 的有效信号强度约为对照平台的 3.8~7.0 倍。
性能表现与光纤数值孔径、狭缝、光栅、探测器、波段及积分时间等配置有关，具体以实际测试方案为准。MEASUREMENT OUTCOMES
将更多光能转化为可用测量余量
PRODUCT ROUTE
由 HiNA 平台延伸的产品配置
HiNA 系列面向可见至短波近红外的高通量光谱采集；HiNA N 则将该类设计延伸至近红外材料分析与 1064 nm 拉曼等任务。